X熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法，是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫(huà)和壁畫(huà)。

　　X熒光光譜儀通常用以下一種或幾種方法來(lái)分離熒光：

　　1、90°布置法：激發(fā)光和探測(cè)器90°方向布置。由于熒光沒(méi)有方向性，它向四周發(fā)射，因此可以把探測(cè)器放在與激發(fā)光成90°的位置來(lái)接收熒光。大部分的熒光測(cè)量裝置都采用此方法（同時(shí)常常配上其它方法）。

　　2、濾波法：從熒光產(chǎn)生原理可知，熒光的波長(zhǎng)大于激發(fā)光的波長(zhǎng)。我們?cè)谔綔y(cè)器前面放一個(gè)長(zhǎng)通濾波片，它的截至波長(zhǎng)稍大于激發(fā)光波長(zhǎng)。這樣，只有熒光才能被探測(cè)器采集。該法的另一個(gè)好處是可以濾掉一部分雜散光，但是它也可能濾掉一部分熒光。

　　3、時(shí)間延遲法：由產(chǎn)生熒光的原理可知，熒光從產(chǎn)生到*消失，它有一個(gè)時(shí)間過(guò)程（即從高能級(jí)的非穩(wěn)態(tài)躍遷到低能級(jí)的亞穩(wěn)態(tài)或穩(wěn)態(tài)的時(shí)間）。不同的物質(zhì)，這個(gè)時(shí)間的長(zhǎng)短是不一樣的，它們從幾微秒到幾分鐘不等。我們可以給探測(cè)器的快門(mén)一個(gè)延遲時(shí)間，讓激發(fā)光*消失后開(kāi)始對(duì)熒光采樣。在一些特殊條件，如用反射探針測(cè)固體、液體的熒光時(shí)，光路無(wú)法90°布置，這時(shí)需要通過(guò)延遲采樣時(shí)間來(lái)分離出熒光。

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